目的: SIMS新技術WGでは、TOF-SIMS, Dynamic SIMS, Atom Probe およびその関連分野に関する国際シンポジウムを開催いたします。イオンを活用した新たな計測手法への展開を目指して活発な議論ができる場にしたいと考えています。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。 日程: 2013年4月25日、26日 (9:00-18:00) 会場:東京・吉祥寺/成蹊大学14号館4階会議室・小会議室 (懇親会: 4月25日 夕刻, 大学10号館ビル12階 ホール)招待講演者: Akira Motoyama (Shiseido) Alex Shard (NPL, UK) Dan Graham (University of Washington, US) David J. Larson (CAMECA) Hubert Gnaser (University of Kaiserslautern, Germany) Jentaie Shiea (National Sun Yat-Sen University, Taiwan) Larry Wang (Evans Analytical Group) Masaaki Fujii (Tokyo Institute of Technology, Japan) Masanori Owari (The University of Tokyo, Japan) Masaru Tsukada (Tohoku University, Japan) Michael Dürr (Esslingen University of Applied Sciences, Germany) Motoo Ito (JAMSTEC, Japan) Noel Smith (Oregon Physics) Peter Williams (Arizona state Univ.) Sebastien Duguay (University of Rouen, France) Shinichi Komaba (Tokyo University of Science, Japan) Shinichi Ogawa (AIST, Japan) Tetsuo Sakamoto (Kogakuin University, Japan) Tom Wirtz (The Centre de Recherche Public – Gabriel Lippmann, Luxembourg) Tomoyuki Ozawa (Nissan Chemical Industries) Yasuo Shimizu (Tohoku University, Japan) Yeonhee Lee (KIST, Korea) Yoji Nakajima (Asahi Glass Co., Ltd., Japan) Yuji Kataoka (Fujitsu, Japan) ————————————————————— 発表申込期限:ポスター発表は3月20日までに延長しました。 発表方法:口頭発表は英語での発表をお願いします。スライド、ポスターは必ず英文で作成してください。ポスター発表では、1分間のフラッシュ発表もお願いしています。詳細は発表者に後ほど連絡いたします。 ————————————————————— 発表申込: 参加申し込みフォームに必要事項を記入し、「Submit」ボタンを押してください。1週間以内に参加確認のメールが届かない場合は、お問い合わせください。(要旨を同時に送付される場合は、100語の短い要旨は不要です。) —————————————————————
発表用要旨は下記テンプレートに準じた様式でA4用紙2ページで英文で作成してください。 要旨は3/15までにメールで送付してください: ————————————————————— 参加費:一般 5000円、学生 2000円 ————————————————————— 参加申込:当日参加申し込みも可能です。 参加申し込みフォームに必要事項を記入し、「Submit」ボタンを押してください。1週間以内に参加確認のメールが届かない場合は、お問い合わせください。(懇親会は無料ですが、参加される方はyesをチェックしてください。) ————————————————————— Organizing Committee:
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賛助会員
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