SIMS研究会 3 装置

「二次イオン質量分析法のハードウェア基礎講座」

日時:6月21日(金)13時〜22日(土)
場所:北海道大学創成科学研究棟5階大会議室

アクセス

プログラム

6月21日(金)

13:00-13:15 SIMS装置の概説 圦本尚義(北海道大学)

13:15-14:15 SIMSの真空系 三輪司郎(アメテックカメカ事業部)

14:15-15:15 一次イオン源と一次イオン光学系 松尾二郎(京都大学)

15:30-16:30 サンプルチャンバーと二次イオン質量分析系 野島雅(東京理科大学)

16:30-17:30 二次イオン検出系 圦本尚義(北海道大学)

18:00-20:00 懇親会

6月22日(土)10時〜12時

110:00-12:00 SIMS装置見学

セクター型SIMS(カメカIMS-3f, 6f,1270)

マルチターンTOF-SNMS(JEOL LIMAS)

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申し込み:

申込締切:6月7日(金)

定員:50名

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旅行情報:パック旅行(1泊2日)で東京,大阪から約2万円〜