| TOF-SIMS, D-SIMS, Atom Probe, SNMS，イオン散乱、およびその関連分野に関する国際シンポジウム (SISS-17) を開催いたします。イオンを活用した新たな計測手法へ の展開を目指して活発な議論ができる場にしたいと考えています。またプレナリーレクチャーにおいてA. Wucher教授にご講演頂く予定です。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。
日程：2015年6月25日、26日
会場：成蹊大学 14号館 4階大会議室
(懇親会（無料）は6月25日 夕刻)
アクセス
PROGRAM
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招待講演者：
Hidde H. Brongersma (Eindhoven Univ. Technology / Imperial College (London) / ION-TOF GmbH)
Birgit Hagenhoff (Tascon GmbH)
Laurent Houssiau (Univ. de Namur)
Fumio Inagaki (JAMSTEC, Japan Agency for Marin-Earth Science and Technology)
Sung-Kyu Kim (National Institute for Nanomaterials Technology (NINT), POSTECH)
Kenji Kimura (Kyoto Univ.)
Mary L. Kraft (Univ. of Illinois)
Nicholas Lockyer (Univ. of Manchester)
Charles W. Magee (Evans Analytical Group)
Daisuke Miura (Kyushu Univ.)
Kenji Nishida (CRIEPI, Central Research Institute of Electric Power Industry)
Koichi Nishikawa (Toyota Central R&D Labs., Inc.)
Peter Sjövall (SP Technical Research Institute of Sweden)
Andreas Wucher (University of Duisburg-Essen)
Li Yang (Xi’an Jiaotong-Liverpool University)
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参加申込：
参加申込フォームに必要事項を記入し、「Submit」ボタンを押してください。
1週間以内に参加確認のメールが届かない場合は、お問い合わせください。
（懇親会については、参加される方はyesをチェックし てください。）
当日配布しますアブストラクトブックは白黒ですが、事前登録して頂くとカラー 版のpdfファイルをダウンロードして頂くことができます。
参加費：
一般 5,000円、学生 2,000円
Registration
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実行委員：
| 座長圦本尚義（北海道大学） |
| 実行委員長 高野明雄（ＮＴＴ－ＡＴ） |
| プログラム 野島 雅（東京理科大学） |
| 青柳里果（成蹊大学 |
| Songsu Cho (Ametek) |
| 石川真起志（アメテック） |
| 石川修司（日立ハイテクサイエンス） |
| 大岩烈（オミクロン） |
| 大友晋哉（古河電工） |
| 加連明也（物質・材料研究機構） |
| 工藤正博 （成蹊大学） |
| 齋藤玲子（東芝） |
| 清水康雄（東北大学） |
| 白水達也（三菱電機） |
| 趙 成洙（アメテック） |
| 西野宮卓（新日鐵住金） |
| 松尾二郎（京都大学） |
| 宮坂豊光（旭化成） |
| 村瀬 篤（豊田中央研究所） |
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SISS17 SPONSORS
Ametek
Hitachi High-Tech Science
Nano Science
Toyama
Ulvac-Phi
Astech
Jeol
ScientaOmicron
FEI
APCO
Nitto
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