SIMS研究会8, 8/29（月）化学イメージング

“ALC15サテライトチュートリアル”

「SIMSと関連技術による化学イメージング」

特別講演者のAlex G. Shard博士（National Physical Laboratory, UK）がやむを得ない事情で来日できなくなりました。そのためプログラムが一部変更となっております（6/26日より）。

2016年8月29日（月） 13時〜17時　成蹊大学　６号館３０１室

斉藤結花（学習院大学理学部化学科）
近接場ラマン顕微鏡
Yuika Saito (Gakushuin University)
Near-field Raman microscope

河野行雄（東京工業大学未来産業技術研究所）
チップ型近接場テラヘルツ波イメージングとその応用
Yukio Kawano (Tokyo Institute of Technology)
Chip-Based Near-Field Terahertz Imaging and Its Applications

大塚洋一（大阪大学大学院理学研究科化学専攻）
走査型エレクトロスプレーイオン化法（SPESI）の質量イメージングへの展開
Yoichi Otsuka (Osaka University)
Scanning probe electrospray ionization (SPESI) for mass spectrometry imaging

新間秀一（大阪大学大学院工学研究科）
みえないものを「みる」！質量顕微鏡の開発とその応用
Shuichi Shimma (Osaka University)
Development of Mass Microscope -Basics of imaging mass spectrometry and applications –

飯田真一（アルバック・ファイ（株））
パラレルイメージングMS/MSを用いたTOF-SIMSにおけるポリマー同定
Shinichi Iida (Ulvac-Phi Inc.)
TOF-SIMS study of polymer identification using parallel imaging MS/MS

久我ゆかり（広島大学大学院総合科学研究科）
生物試料における安定同位体トレーサーの微細構造解析
Yukari Kuga (Hiroshima University)
Ultrastructural analysis of stable isotope tracers in biological materials

青柳里果（成蹊大学理工学部）
ToF-SIMSによる化学イメージングと定量への挑戦
Chemical Imaging with ToF-SIMS and the challenge to measure concentrations

17:00~ 懇親会（懇親会費 2000円）

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