[NEW] SISS-23（対面を中心とするハイブリッド開催）
第23回イオンと固体の相互作用に基づく二次イオン質量分析に関する国際科学シンポジウム(SISS-23)を下記の日程にて開催します。SISSは、TOF-SIMS, D-SIMS, Atom Probe, SNMSおよびその関連分野に関する国際シンポジウムであり、イオンを活用した新たな計測手法への展開を目指して活発な議論ができる場にしたいと考えています。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。
本シンポジウムは、日本表面真空学会マイクロビームアナリシス技術部会の活動の一環として実施されます。
■日程：2024年6月13日（木）・14日（金）
■会場：東京理科大学
森戸記念館（第1・第2フォーラム・第1・第3会議室） MAP
■プログラム：（作成中）
■タイムテーブル：（作成中）
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■招待講演者
短編要旨をご参照ください。ShortAbstract_SISS23
Ahsan Habib (University of Dhaka)
Chang Min Choi (Korea Basic Science Institute)
Ron M.A. Heeren (Maastricht University)
Haibo JIANG (The University of Hong Kong)
Hua Tian (University of Pittsburgh)
Jeramy Zimmerman (Colorado School of Mines)
Qiu-li Li (Chinese Academy of Sciences)
谷口 昌宏 (金沢工業大学)
森田 真人 (工学院大学)
矢渕 翼 (花王)
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■発表募集
申込期限 口頭発表 2024年4月30日（火）
ポスター発表 2024年4月30日（火）
※申込期限を延長しました。
なお、優れたポスター発表を行った講演者に加連賞（Karen Award）が贈られます。
積極的なご投稿をお待ちしております。
ポスター発表は、ショートプレゼンテーションを会場とオンラインのハイブリッド方式で実施し、ポスターセッションは会場に限る対面開催を予定しています。
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■発表方法
口頭発表は英語での発表をお願いします。
スライド、ポスターは必ず英文で作成してください｡
ポスター発表では、2分程度のショートプレゼンテーションもお願いしています。
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■要旨提出
発表者には要旨の提出をお願いいたします。
MS-WordもしくはPDFファイルを(A4 page size, 1 page or 2 pages)をご準備ください。
下記フォームから必要事項を記入してご提出ください。
申込フォーム
要旨テンプレート：SISS23_template
■要旨提出期限： 2024年4月30日（火）
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■参加登録
参加登録フォーム：申込はこちらから
現地での参加可能人数に制限があるため、開催当日の現地での参加登録はできません。
事前の参加登録をお願いいたします。
受付期限：6月10日（月）
上記フォームの参加登録に加えて、PayPalで参加費のお支払いもお願いいたします。
（招待講演者の方は参加費の支払いは必要はありません）
■参加費
一般 8,000円、学生 2,000円
■実行委員
野島 雅 （実行委員長・東京理科大学）
盛谷 浩右 （プログラム委員長・兵庫県立大学）
朝原 康之 （アメテック）
石川 真起志 （アメテック）
石川 達也 （アルバック・ファイ）
大岩 烈 （トヤマ）
大柿 真毅 （日立ハイテクサイエンス）
大友 晋哉 （古河電気工業）
岡本 昌幸 （花王）
梶原 靖子 （村田製作所）
工藤 正博 （成蹊大学）
齋藤 玲子 （東芝）
榊 篤史 （日亜化学工業）
坂本 直哉 （北海道大学）
鮫島 純一郎 （東レリサーチセンター）
城後 香里 （東芝ナノアナリシス）
瀬木 利夫 （京都大学）
高野 明雄 （トヤマ）
谷口 昌宏 （金沢工業大学）
野町 一郎 （ソニー）
二宮 啓 （山梨大学）
橋本 学 （IONTOFジャパン）
松尾 二郎 （京都大学）
三原 一郎 （クラレ）
圦本 尚義 （北海道大学）
