SIMS研究会12 開催案内 （案内pdf版 修正版）
日程 ２０１８年１１月１４日（水）午後１時〜5時
場所 成蹊大学 8号館 3階 8-301 アクセス
研究会内容
飛行時間型二次イオン質量分析とデータ解析のこれから
〜医療から工業材料まで〜
13:00~13:05 講演者紹介
13:05~14:05
招待講演 「単純投影型TOF-SIMSの開発と医療応用」60分
橋本浩行氏（キヤノン, 千葉大学客員教授）
14:05~14:40
招待講演 「ＴＯＦ－ＳＩＭＳを用いた有機物分析（仮）」35分
川島知子氏（パナソニック）
休憩 14:40~15:00
15:00~15:45
招待講演 「TOF-SIMSを用いた材料・製品の機能研究」45分
岡本昌幸氏（花王）
15:45~16:30
VAMASプロジェクト説明
「AI/Machine learning application to Static-SIMS spectrum data analysis 」45分
青柳里果（成蹊大学理工学部）
16:30~16:45 SIMS 22の紹介
＊ 最後の講演が変更となりました。
＊ 会場が８号館に変更になりました。
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