「二次イオン質量分析法のハードウェア基礎講座」
日時：６月21日（金）13時〜22日（土）
場所：北海道大学創成科学研究棟５階大会議室
プログラム
６月21日（金）
13:00-13:15 SIMS装置の概説 圦本尚義（北海道大学）
13:15-14:15 SIMSの真空系 三輪司郎（アメテックカメカ事業部）
14:15-15:15 一次イオン源と一次イオン光学系 松尾二郎（京都大学）
15:30-16:30 サンプルチャンバーと二次イオン質量分析系 野島雅（東京理科大学）
16:30-17:30 二次イオン検出系 圦本尚義（北海道大学）
18:00-20:00 懇親会
6月22日（土）10時〜12時
110:00-12:00 SIMS装置見学
セクター型SIMS（カメカIMS-3f, 6f,1270）
マルチターンTOF-SNMS（JEOL LIMAS）
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申し込み:
申込締切：6月７日（金）
定員：５０名
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旅行情報：パック旅行（1泊2日）で東京，大阪から約２万円〜