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TOF-SIMS, D-SIMS, Atom Probe, SNMS，イオン散乱、およびその関連分野に関する国際シンポジウム (SISS-18) を開催いたします。イオンを活用した新たな計測手法への展開を目指して活発な議論ができる場にしたいと考えています。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。
日程：2016年7月21日、22日
会場：成蹊大学 14号館 4階大会議室
(懇親会（無料）は7月21日 夕刻）
また、7/20（水）には同会場でSIMS研究会7の開催を予定しております。
アクセス
プログラム
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招待講演者：
Dan Aoki (Nagoya University)
Jean Nicolas Audinot (Luxembourg Institute of Science and Technology)
Alain Brunelle (Institut de Chimie des Substances Naturelles)
Arnaud Delcorte(Universite catholique de Louvain )
Gregory L. Fisher (Physical Electronics)
Greg Gillen (National Institute of Standards and Technology (NIST))
Kazuhiro Hono (National Institute for Materials Science (NIMS))
Francois Horreard (Ametec)
Akira Kuramoto (TOSHIBA)
Tae Geol Lee (Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS))
Tomoaki Nishimura (Hosei University)
Melissa Passarelli (National Physical Laboratory (NPL))
Guoqiang Tang (Chinese Academy of Sciences)
Lixia Zhao (Chinese Academy of Sciences)
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発表申込期限：
口頭発表：2016年5月13日まで
ポスター発表：2016年6月17日まで
発表方法：口頭発表は英語での発表をお願いします。
要旨提出:
発表者には要旨の提出をお願いいたします。MS-WordもしくはPDFファイルを(A4 page size, within 2 pages (1 page or 2 pages) 下記アドレスまでご提出ください。
Abstract template (Word file):
要旨提出期限：2016年6月17日
Maximum Poster Size: 850mm x 1200mm (Poster board size: 900 mm × 1800 mm)
参加申込：後ほど、このサイトにて受け付けます。
当日配布しますアブストラクトブックは白黒ですが、事前登録して頂くとカラー版のpdfファイルをダウンロードして頂くことができます。
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Registration
参加費：
一般 5,000円、学生 2,000円
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実行委員:
組織委員長：圦本尚義（北海道大学）
実行委員：野島 雅（実行委員長：東京理科大学）
西野宮卓（プログラム委員長；新日鐵住金）
工藤正博 （成蹊大学）
青柳里果（成蹊大学）
石川 修司（日立ハイテクサイエンス）
石川真起志（アメテック）
大岩 烈（シエンタ オミクロン）
大友 晋哉（古河電気工業）
加連明也（物質・材料研究機構）
小松 里香（旭化成）
齋藤 玲子（東芝）
清水康雄（東北大学）
榊 篤史（日亜化学工業）
鈴木 隆彦（アルバック・ファイ）
高野明雄（トヤマ）
趙 成洙（アメテック）
松尾二郎（京都大学）
村瀬 篤（豊田中央研究所）
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